Repository logo
  • English
  • Català
  • Čeština
  • Deutsch
  • Español
  • Français
  • Gàidhlig
  • Italiano
  • Latviešu
  • Magyar
  • Nederlands
  • Polski
  • Português
  • Português do Brasil
  • Suomi
  • Svenska
  • Türkçe
  • Tiếng Việt
  • Қазақ
  • বাংলা
  • हिंदी
  • Ελληνικά
  • Yкраї́нська
  • Log In
    New user? Click here to register.Have you forgotten your password?
Repository logo
  • Communities & Collections
  • All of DSpace
  • English
  • Català
  • Čeština
  • Deutsch
  • Español
  • Français
  • Gàidhlig
  • Italiano
  • Latviešu
  • Magyar
  • Nederlands
  • Polski
  • Português
  • Português do Brasil
  • Suomi
  • Svenska
  • Türkçe
  • Tiếng Việt
  • Қазақ
  • বাংলা
  • हिंदी
  • Ελληνικά
  • Yкраї́нська
  • Log In
    New user? Click here to register.Have you forgotten your password?
  1. Home
  2. Browse by Author

Browsing by Author "Severiano Carrillo, Israel"

Now showing 1 - 1 of 1
Results Per Page
Sort Options
  • No Thumbnail Available
    Item
    Comparación de diferentes modelos empleados para describir curvas de barrido en Z para medios ópticos no lineales para cualquier espesor
    (Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, 2014-01) Severiano Carrillo, Israel; SEVERIANO CARRILLO, ISRAEL; 161955; Méndez Otero, Marcela Maribel; 20918
    "La técnica de barrido en Z es uno de los métodos más utilizados en óptica para determinar si un material presenta un índice de refracción dependiente de la intensidad incidente de un haz de luz. En particular esta técnica permite determinar el signo y la magnitud del índice de refracción no lineal (n2) que exhibe el material."
  • © Benemeríta Universidad Autónoma de Puebla | Vicerrectoría de Docencia | Dirección de Educación Superior | Acerca de | Condiciones de uso